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PHI CHINA表面分析技术网络讲堂已经成功开办了三期，感谢广大客户及师生一直以来的关注及支持。为了将更多更好的技术分享给大家，本周将开展“飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）”专题讲堂。

飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometer 简称ToF-SIMS），使用初级脉冲离子入射固体材料表面，通过探测表面激发出的二次离子的飞行时间分辨其质量，以表征材料表面的元素成分、分子结构、分子键接等信息。

第一课：TOF-SIMS基本原理、主要功能和应用

时间：3月19日 15:00

主讲：PHI CHINA资深应用专家鲁德凤女士

1. SIMS的基本原理（包括D-SIMS和TOF-SIMS）

2. TOF-SIMS的主要功能

3. TOF-SIMS在材料分析中的主要应用

第二课：TOF-SIMS硬件简介、仪器功能及特点

时间：3月20日 15:00

主讲：PHI CHINA主任工程师辛国强先生

1. TOF-SIMS仪器结构及其功能

2. TRFIT 能量分析器原理

3. LMIG离子枪原理

4. 深度剖析离子枪

5. PHI NanoTOF II特性

第三课：TOF-SIMS的样品制备、测试和分析过程演示以及数据分析

时间：待定

主讲：ULVAC-PHI原厂应用科学家张熏匀博士

Presenter: Dr. Zhang Hsunyun, ULVAC-PHI Application Scientist

1. 不同样品不同测试需求的样品制备

2. 样品测试和分析过程的演示

3. 如何使用软件进行数据分析（图谱解析、MAPPING、深度剖析曲线&3D成像等）

本次为期三天的讲堂将以网络直播结合现场答疑的方式进行，由PHI CHINA资深专家及ULVAC-PHI原厂应用科学家共同为您解析TOF-SIMS系列别样的精彩。疫情尚未结束，学习不能止步。欢迎扫描右边公众号二维码，回复网络讲堂进行报名。请继续关注我们，更多的干货和技术分享，敬请期待。

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