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中国材料大会于2018年7月在美丽的海滨城市厦门召开。数百家公司参与此次展会，并在会上展示了他们用于材料研究的最新技术。

PHI-CHINA作为表面分析技术领域的供应商之一，参与了此次展会。在本次展会中，有一个海报展览活动，令人意想不到的是，有超过40张海报利用了表面分析技术来表征某些材料的特性，例如XPS（X射线光电子能谱仪）和AES（俄歇电子能谱仪）等设备，给科研和产品开发上提供莫大的帮助，也印证了在材料研究中表面分析技术的重要性。

今年是PHI-CHINA连续第四年参与该展会。我们的执行总监叶上远先生有幸在本次展会上就“串联质谱——新的材料表征方法”该主题发表演讲，详细介绍了串联质谱表征方法与飞行时间二次离子质谱表征方法。传统的飞行时间二次离子质谱已然有很多优势，如其能够检测氢元素、高达PPM甚至PPB的检测限、快速的平行检测以及亚微米级的空间分辨率。当加入新的串联质谱之后，飞行时间二次离子质谱可精确的区分高质量（>200amu）的峰位和其分子结构。这是表面分析领域的又一项重要技术成就。

PHI-CHINA将一如既往地全力开拓中国市场，为广大用户提供最优质的表面分析仪器和售后服务。我们祝愿中国材料大会继续取得更大的成功，同时也为我们每年能参与展会而感到自豪。

叶上远先生拍摄于中国材料大会（厦门）

叶上远先生主题为“串联质谱——新的材料表征方法”的演讲

叶上远先生与与会人员交流答疑