最新消息
07
12月
2022
PHI表面分析技术助力科技成果转化
02
12月
2022
TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之三
28
11月
2022
TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之二
18
11月
2022
PHI CHINA 2022表面分析技术与应用研讨会成功举办
17
10月
2022
又双叒叕有两台AES俄歇电子能谱安装完成
13
10月
2022
TOF-SIMS在光电器件研究中的应用系列之一
03
10月
2022
利用XPS和UPS/LEIPS表征透明导电氧化物（TCO）薄膜
09
9月
2022
通过XPS和REELS评估DLC薄膜中的sp2/sp3碳含量
16
8月
2022
利用UPS/LEIPS和REELS进行可靠的带隙表征
08
8月
2022
PHI TOF-SIMS用户成果赏析-北京理工大学先进材料实验中心